晶振老化测试座简单
一、借款用途:维基体育:锈蚀座、测试方法座,对7050(7.0*5.0)的IC集成ic来进行高冷藏老旧化试验
二、支持封裝: 7050(7.0*5.0)-4PIN贴片晶振
三、探头构造,玩平衡、球小巧。
四、使用特定的工业塑料,的强度高、蓄电量长
五、烫金层加厚,触头加厚电渡,较低碰到输出阻抗、高信得过度,动用生命(翻盖型式20000次)
六、鸿怡电子可提高样式书(布板图)信息,PDF档\CAD档
外形尺寸外形尺寸
一、款式: 7050(7.0*5.0)-4PIN
二、脚位:4
三、电源芯片外形尺寸:7.0*5.0mm
四、的老化座设备构造:翻盖式